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溫度沖擊試驗(yàn)和循環(huán)試驗(yàn)對(duì)照
溫度沖擊試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家**標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。
目的 加速應(yīng)力試驗(yàn) 加速壽命試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-202 Method 107 IEC60749-25
JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1
MIL-STD-2164-85
試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn)
試驗(yàn)環(huán)境 比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境 極限使用環(huán)境
試樣 零部件 元器件，焊點(diǎn)(BGA，CSP) 成品
試樣尺寸 小 小 比較大
試驗(yàn)溫度范圍
-40(-55)～125(150)℃ -40(-65)～125(150)℃ -40(-0)～100℃
溫度變化率
1槽法：大于30℃/分鐘 空氣
2槽法：大于50℃/分鐘 空氣
1槽法：小于15℃/分鐘 試樣
1槽法：小于20℃/分鐘 空氣
加速系數(shù) 100～500倍 比加速試驗(yàn)加速系數(shù)小 10～20倍
試驗(yàn)結(jié)果 設(shè)計(jì)信息 設(shè)計(jì)信息 生產(chǎn)品質(zhì)差異驗(yàn)證
溫度沖擊試驗(yàn)：
升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大，同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。
溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
引起溫度沖擊的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。
加速應(yīng)力試驗(yàn)：加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間，對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn)，以考察其失效機(jī)理。試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效，。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。
溫度循環(huán)試驗(yàn)：
溫度循環(huán)就是將試驗(yàn)樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中。為避開(kāi)溫度沖擊影響，試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時(shí)，為達(dá)到蠕變及疲勞損傷的效果，推薦試驗(yàn)溫度循環(huán)為25℃～100℃，或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃～100℃的循環(huán)試驗(yàn)，曝露時(shí)間為各15分鐘。
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS= Environmental Stress Screening)：
對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快暴露而予以剔除。ESS不是加